전체 72건
| 번호 | 분류 | 이미지 | 기기명 | 기기약어 | 상태 |
|---|---|---|---|---|---|
| 36 | 구조분석 |  |
원이색분광광도계 (Circular Dichroism Spectroscopy) 기기약어CD 상태정상 |
CD |
정상 |
| 35 | 표면분석 |  |
원자현미경 (Atomic Force Microscope) 기기약어AFM 상태정상 |
AFM |
정상 |
| 34 | 기타 | .jpg.png?t=1770026800) |
웨이퍼 본딩 시스템 (Wafer Bonding System) 기기약어W2W Bonder 상태정상 |
W2W Bonder |
정상 |
| 33 | 기타 | .jpg.png?t=1770026800) |
웨이퍼 얼라이닝 시스템 (Wafer Aligning System) 기기약어Mask Aligner 상태정상 |
Mask Aligner |
정상 |
| 32 | 기타 |  |
웨이퍼급속열처리(진공오븐)시스템 (Rapid Thermal Annealing System) 기기약어RTA 상태수리 |
RTA |
수리 |
| 31 | 기타 |  |
웨이퍼식각기시스템(마스크클리너, 습식) (Wet Station) 기기약어WETST 상태정상 |
WETST |
정상 |
| 30 | 표면분석 | .jpg.png?t=1770026800) |
위상변조타원분광기 (Ellipsometer) 기기약어엘립소미터 상태정상 |
엘립소미터 |
정상 |
| 29 | 기타 | .jpg.png?t=1770026800) |
유도결합 플라즈마 식각장비 (Inductively Coupled Plasma Reactive Ion Etcher) 기기약어ICP RIE 상태정상 |
ICP RIE |
정상 |
| 28 | 성분분석 |  |
유도결합플라즈마원자방출분광기 (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer) 기기약어ICP-AES or ICP- OES 상태정상 |
ICP-AES or ICP- OES |
정상 |
| 27 | 성분분석 |  |
유도결합플라즈마질량분석기1 (Inductively Couples Plasma Mass Spectrometer) 기기약어ICP-MS 상태수리 |
ICP-MS |
수리 |
| 26 | 성분분석 |  |
유도결합플라즈마질량분석기2 (Inductively Couples Plasma Mass Spectrometer) 기기약어ICP-MS 상태정상 |
ICP-MS |
정상 |
| 25 | 표면분석 | .jpg.png?t=1770026800) |
유도결합플라즈마화학기상증착장비 (ICP CVD) 기기약어ICP CVD 상태정상 |
ICP CVD |
정상 |
